| 是否进口：否 | 产地：日本 | 加工定制：是 |
| 品牌：OTSUKA大塚电子 | 型号：RETS-100nx | 类型：相位差测量 |
| 外形尺寸：100mm × 100mm（固定级）mm | 产品用途： RTH测试 VR测试仪 Re测试 贴合角测试 |
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它是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。 |
| 类型表达式 | 延迟测量设备 RETS-100nx |
| 测量项目（薄膜、光学材料） | 延迟（波长色散）、慢轴、Rth*1，三维折射率*1等 |
| 测量项目（偏振板） | 吸收轴、偏振度、消光比、各种色度、各种透射率等 |
| 测量项目（液晶电池） | 细胞间隙，预倾角*1、扭曲角、取向角等 |
| 延迟测量范围 | 0 ～ 60,000nm |
| 延迟可重复性 | 3 μ≦0.08nm（晶体波长板约 600nm） |
| 细胞间隙测量范围 | 0 到 600μm（μn = 0.1） |
| 细胞间隙可重复性 | 3π≦0.005μm（单元间隙约3μm、Δn=0.1时） |
| 轴检测可重复性 | 3° ≦0.08° （晶体波长板约 600nm） |
| 测量波长范围 | 400 至 800nm（可选） |
| 探测器 | 多通道光谱仪 |
| 测量直径 | φ2mm （标准规格） |
| 光源 | 100W 卤素灯 |
| 数据处理部 | 个人计算机、显示器 |
| 舞台尺寸：标准 | 100mm × 100mm（固定级） |
| 选项 | 超高延迟测量 、多层测量 、轴角度校正功能 、自动 XY 级 、自动倾斜旋转阶段 |
*1 需要自动倾斜旋转阶段（可选）
OTSUKA大塚电子AR测试仪RETS-100nx 延迟测量设备 液晶盒厚测试 偏光片RTH
薄膜位相差 RTH测试 VR测试仪 Re测试 贴合角测试 RETS100 RE-200 RETS-100L
偏光片轴角度测量仪 光学膜轴角 相位差测量
